头戴式耳机外观瑕疵检测方案
产品简介
详细信息
头戴式耳机外观瑕疵检测方案
客户问题
头戴式耳机因为音质效果好、佩戴舒适、隔音好,一直以来受到了消费者的普遍喜爱。在其工业生产中,因为各种因素造成的外观瑕疵不仅造成了不良的产品质量印象,有些甚至对产品性能产生了很大的影响。因此瑕疵检测是头戴式耳机质量检测环节极其重要的步骤。
解决方案
针对头戴式耳机的多种类型瑕疵检测,海克斯康推出了头戴式耳机外观瑕疵检测方案。
检测项目
检测管口外侧有无短射与熔接痕(检测点位:2个)
检测Yube 管外侧与2个侧部有无短射与熔接痕(检测点位:10个)
检测Yube 两段管口毛边(检测点位:2个)
多料:浇口残留<0.3mm (检测点位:4个)
方案优势
CT时间,26s/pcs
5个高像素相机搭配远心镜头,包含同轴光与环形光不同光源,多个垂直单轴模组与旋转轴模组
设备通过顶部的1个CCD、侧面的2个CCD及外侧的2个CCD对产品进行的检测
设备进行外侧测试时,通过X轴、Z轴、旋转轴来调节测试点位进行精准定位
设备进行侧面测试时,侧面两个X轴运动方向相逆,同步测量2个侧面
设备进行顶部测试时,通过Y轴来调节测试点位,一次检测2个点位