LA-S植物叶面图像分析系统
产品简介
详细信息
用途:LA-S植物叶面分析系统用于植物叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、严重虫损叶面积分析、叶色分档分析等,配置相应的扫描设备即可在野外便携使用。
技术规格:
硬件指标: | |
光学分辨率 | 9600×9600 dpi |
尺寸 | 286×409×43mm |
重量 | 约2.1kg |
供电 | USB口,可野外配合笔记本进行工作 |
拍摄箱 | 封闭式扫描、无直射强光干扰 |
大分析测量面积 | 300mm×210mm |
分辨的小尺寸 | 0.008 ×0.008 mm |
图像分析测量精度 | X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25% |
长度测量重现性误差 | <±0.25% |
面积测量重现性误差 | <±0.25% |
台间测量差异 | <±0.25% |
测量总时间 | 30~60秒 |
软件功能: | |
分析测量 | 可同时分析多张叶片面积,及分析小至1mm2的叶片。叶面积 (可累计面积)、叶片面积(可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量,叶片锯齿高度、宽度、数量测量,叶孔面积测量;包膜(齿-齿之间的直线长度和),包膜形成的投影面积;不规则叶片形态分析,真彩的病斑、虫损面积分析(含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析),叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询,用于氮肥状态的外观评价)。 |
人工辅助修正 | 图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正 |
统计效果监视 | 监视和修正植物对象分析的精度 |
自动杂质剔除 | 根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除 |
辅助测量功能 | 尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量; |
数据报表导出 | 分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用 |
产地:中国