JB2010-H干法粒度分析仪
产品简介
详细信息
型号：JB2010-H
名称：干法激光粒度仪
一、产品概述：
JB2010-H属于干法全自动激光粒度仪，被广泛应用到粉体行业，我公司针对不同行业设计了不同模板，客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。
二、主要性能特点：
★*的光路设计：JB2010-H采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在短的焦距获得大量程，有效提高仪器的分辨能力；小探头排布，让2010拥有了*的小颗粒测试能力。*的自动对中系统及电脑操作系统彰显出JB2010-H人性化设计。
★高稳定光路优化：*的设计让JB2010-H拥有了*的高稳定光路，它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器，优良的配置使JB2010-H拥有了*的稳定性；主要光路采取了全封闭设计，保证了仪器在复杂环境长时间测试。
★96路同时采集主板：JB2010-H*使用了96路同时采集主板，所有通道同时采集信号，数据更真实更可靠，其他厂家宣称每秒多少次采集是所有通道每个通道单一采集，数据不真实。
★制药行业喂料系统：JB2010-H 专门针对药厂研制了一款喂料系统，很多药材密度小重量轻传统的震动喂料很难均匀的下料，新研发的喂料系统由被动喂料改为仪器主动吃料。进料均匀的同时也能保证很轻的样品进行正常测试。
★*的干法分散系统：JB2010-H分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计，使JB2010-H对干粉的分散更加均匀，*的负压保证了进料的连续性及均匀性，有效避免测试过程中干粉的相互粘连。
★探测器：JB2010-H探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计，保证了仪器全量程内无缝探测，使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统，可实现仪器的一键自动对中，彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害，有效延长了仪器的使用寿命。
★防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。
★光路自动校对：采用机械中心与光学中心相结合技术，光路自动调整定位更精确，达到微米级别；同时光路调整速度个更快捷15秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、精密导轨、精密控制器以及软件系统组成，步距0.2微米，保证激光束焦点始终从探测器中心点穿过，提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是久滨仪器所有型号激光粒度仪的标准配置。
★管道无残留：测试完成后管道内无残留样品，不会对下次测试造成干扰。
计算机控制喂料：测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。
软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。
三、主要技术参数：
| 规格型号 | JB2010-H | |
| 执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
| 测试范围 | 0.1μm -2000μm | |
| 探测器通道数 | 108 | |
| 准确性误差 | ＜1%（国家标准样品D50值） | |
| 重复性误差 | ＜1%（国家标准样品D50值） | |
| 喂料方式 | 高精度调节振动喂料，保证测试过程下料均匀 | |
| 误操作保护 | 仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应 | |
| 激光器参数 | 进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW | |
| 分散方法 | 高压空气紊流分散 | |
软 件 功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求 |
| 统计方式 | 体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 | |
| 统计比较 | 可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义 | |
| 自行DIY模板 | 用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等 | |
| 测试报告 | 测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果 | |
| 多语言支持 | 中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。 | |
| 智能操作模式 | 真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。 | |
| 操作模式 | 电脑操作 | |
测试速度 | <1min/次（不含样品分散时间） | |
| 尺寸 | 980mm*410mm*450mm | |
| 重量 | 35Kg | |