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光学仪器及设备光学测量仪色度仪

Atlas成像色度计

供应商:
上海连舰光电科技有限公司
企业类型:
其他

产品简介

Atlas系列2维光谱视觉系统(成像色度计)结合了光谱仪有点和高分辨率相机两款设备的*系统,为显示器、LED显示屏和其它显示器件的视觉检测提供真实的颜色测量特性。另外,该系统也可以进一步扩展增加色度计的功能,可以用作闪烁测量。 说明:Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)--- 高性能高分辨光谱视觉系统!

详细信息

Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)


高性能高分辨光谱视觉系统色度计.jpg


Atlas系列2维光谱视觉系统(成像色度计)结合了光谱仪有点和高分辨率相机两款设备的*系统,为显示器、LED显示屏和其它显示器件的视觉检测提供真实的颜色测量特性。另外,该系统也可以进一步扩展增加色度计的功能,可以用作闪烁测量。

系统具有高度的灵活性,通过一个预先定义好,庞大的函数库,而该函数库已经被整合在一个非常容易使用的语言脚本里,终用户可以按照自己的需求编写测试流程方案。

色度计,光度计,亮度计,照度计,LED显示屏检测,LCD显示屏检测,MURA检测,白点检测,显示屏坏点检测,显示屏色度监测,表面平整度检测,表面光泽度检测

 
产品特点:Atlas成像色度计.jpg可见光谱测量(380nm~780nm)
Ÿ亮度和色度测量
二维亮度和色度校准输出
二维均匀性检测
二维Mura检测(Black,Cloud,blob,line)
块状或区域对比
确定区域比较
像素/线缺陷检测
用户自定义测试流程脚本
合格/不合格测量
数据记录(用户自定义)
无需校准仪器(无需培训)

 
Atlas成像色度计1.jpg               Atlas成像色度计2.jpg

 
基本规格参数:

典型的测试项目

色度、亮度均匀性

通过DFF均匀性算法

线缺陷

通过ADMESY算法

斑状缺陷

通过ADMESY  MURA算法

异物(灰尘等)

通过DFF MURA算法

像素缺陷

通过DFF MURA和颜色均匀性算法

漏光(边缘Mural

通过颜色均匀性算法

色斑检测

通过DFF均匀性算法


相机参数

参数

800万像素

1600万像素相机

分辨率

3312×2488

4872 × 3248

探测器

KAI-08050   TrueSense CCD

KAI-16000   TrueSense CCD

输出格式

12 bit

12bit

非线性度

1%

1%

信噪比

60dB

60dB

曝光时间

1ms ~   16 Senconds

1ms ~   16 Senconds


光谱仪参数

光谱范围

380nm ~   780nm

波长分辨率(FWHM

2.3nm

积分时间

1.4ms –   20s

杂散光

0.03%

非线性度

1%


镜头参数

参数

800万像素

1600万像素相机

镜头

Componon-S   4.0/80

Componon-S   4.5/90

Componon-S   5.6/100

Componon-S   4.5/90

Componon-S   5.6/100

焦距

80.3mm

91.2mm

102.3mm

91.2mm

102.3mm

视场角

水平

12.5°

11.2°

10.1°

16.0°

14.5°

垂直

9.4°

8.4°

7.6°

10.7°

9.7°

斜线

15.5°

13.9°

12.6°

19.2°

17.3°

工作距离

6inch/152mm

593mm

677mm

766mm

492mm

558mm

8inch/203mm

774mm

883mm

997mm

635mm

719mm

10inch/254mm

956mm

1089mm

1228mm

779mm

880mm

12inch/305mm

1137mm

1295mm

1459mm

922mm

1041mm








软件和溯源
Atlas系列成像色度计3.jpg


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