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物性测试仪器及设备无损检测/无损探伤仪器超声波探伤仪

PA4 日本KJTD超声波探伤仪

供应商:
深圳市秋山贸易有限公司
联系人:
黄静雯 查看联系方式
地址
日本

产品简介

日本KJTD超声波探伤仪
128通道并行驱动型高速相控阵探伤系统现已上市!
在过去很难进行瑕疵检测的特殊环境中以及需要瑕疵检测速度的特殊环境中,Flash Focus与超声波瑕疵检测兼容。高速,高精度探伤支持所需的高质量保证。

详细信息

日本KJTD超声波探伤仪

Flash Focus基本规格

模组
传输脉冲类型方波脉冲(40 ns至1μs,10 ns步进)
发射脉冲电源电压12、48、96伏
硬件过滤器0.5-10 MHz高通滤波器
硬件扫描存储器高达8,000点
HW B扫描存储器醉高32,000点(自动压缩)至62K点(可选)
波形显示全波,RF波
频带0.25-10兆赫
增益设定0至80 dB 0.1 dB步长(大值取决于同时激发的数量)
可用元素数128
同时激发数多128
循环数高达512
重复频率(PRF)〜43 kHz(小23 µs)
采样频率50 MHz / 10位
DAC功能醉高14分
电源电压交流85〜265 V
软件
兼容探头扁平,聚焦,环形矩阵探头,TRL矩阵探头
聚焦方式深度位置,光路,底部参考深度位置,散焦(扩散)(仅用于体积聚焦传输)
延迟模式延迟范围0至40.94 µs DDF,多14点
显示范围A,B,C,D,S范围
声速设定100-10000米/秒
瞄准镜中频门跟踪功能
软件收益记录数据的增益增加功能

 

特征

多可并行驱动128个元件

通过增加同时使用的元件数量,提高了光束聚焦能力,并且还增加了扫描图案。

线性扫描

线性扫描

部门扫描

部门扫描

区域重点

区域重点

动态深度聚焦

动态深度聚焦

体积聚焦技术(砖立3704065)

醉新的相控阵技术可实现高速,高分辨率的缺陷检测。

可以使用各种探针检测缺陷

除了普通的线性探针,我们还使用矩阵探针和细间距探伤实现了更细的束斑尺寸。通过使用不同的探针可以在各种情况下进行检查。

线性扫描

线性探针

年度矩阵探测

年度矩阵探测

方阵探头

方阵探头

 

体积聚焦技术是我公司开发的相控阵超声探伤技术(砖立3704065)。常规的相控阵扫描方法如下。

另一方面,体积聚焦是一种可以立即扫描整个横截面(例如样品体积)的新方法。通过同时激发所有元素来创建一个不分散的平面波。

每个平行的元素都从底面,夹杂物,缺陷等处接收反射的脉冲能量。然后,并行数字硬件处理实时创建B扫描和C扫描。

从概念上讲,体积焦点类似于DDF,但体积焦点可以覆盖所有横截面或体积,而不仅仅是沿深度轴。

音量聚焦

日本KJTD超声波探伤仪

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