XRF-1800型 扫描型X射线荧光光谱仪
产品简介
详细信息
技术特点
•性能优异的光源,业界低的外部条件要求,电压允许波动±10%,接地电阻≤30Ω
•世界波长色散荧光250µm微区分布分析,实现了异性样品和微量样品的分析
•*的高级次谱线解析功能,可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件,快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法(BJ-FP)
•2015新型“定量-FP”法,实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析
•性能优异的光源,业界低的外部条件要求,电压允许波动±10%,接地电阻≤30Ω
•世界波长色散荧光250µm微区分布分析,实现了异性样品和微量样品的分析
•*的高级次谱线解析功能,可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件,快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法(BJ-FP)
•2015新型“定量-FP”法,实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析