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       MEMSMap 510激光多普勒振动测量系统
 

　　我们使用的技术是用扩展的激光束照射物体，并用内置照相机成像。当物体振动时，反射的激光也“振动”，物体位移相应地调制激光。这可以在复合材料的表面振动、静态变形和内部缺陷的全场图中检测到。
 

　　基于激光的微结构高频、低振幅振动三维测量系统。
 

　　MEMSMap 510还可以测量静态位移，它可以测量粗糙和光滑的表面，具有微米的空间分辨率。
 

　　通过使用长焦距物镜，MEMSMap 510可以通过窗口和热过滤器、镜子以及液体介质进行测量。
 

　　•MEMS和NEMS •微结构 •传感器
 

　　•振动模式分析•响应谱•压力传感器•加速度计
 

　　•陀螺仪•碰撞传感器•高温测量•真空室测量
 

　　•热偏转测量•老化效应分析
 

　　•汽车工业•传感器工业•医疗工业•航空航天工业•电子工业•研发•产品测试
 

　　MEMSMap 510使用扩展的激光束照亮目标区域，同时通过显微物镜将目标成像到CMOS传感器阵列上。
 

　　对于平面外测量，使用内部参考光束干扰目标光。对于平面内测量，两束激光用于物体照明。
 

　　对于振动测量，系统计算机使用信号发生器驱动激励装置，目标物体在一个频率范围内被激励。
 

　　振动振幅条纹可以实时显示，同时采用*的记录算法计算数值振幅和相位图。
 

　　对于静态挠度测量，光电管技术基于相移来记录和计算被测物体的静态挠度。
 

　　激光器类型：Nd：YAG/2
 

　　激光波长：532nm
 

　　CCD分辨率：1936*1216/CMOS
 

　　振幅分辨率(数字模式)：0.1nm
 

　　振幅分辨率(实时模式)~1nm
 

　　3D频率范围：0-240MHz
 

　　多普勒激光测振仪Memsmap 510以其测速精度高、测速范围广、动态响应快、非接触测量等优点在航空航天、机械、生物学、医学以及工业生产等领域得到了广泛应用和快速发展。多普勒激光测振仪Memsmap 510主要应用多普勒效应实现物体的振动测试，利用激光的非接触测量可实现一些特殊环境下的测试，例如对微电子元件(MEMS)，机床高速旋转轴的径向跳动及轴向振动以及在高温腐蚀环境下的测试，实现了传统的接触式传感器在这些应用领域的空白。