EPMA-1720 电子探针X射线微区分析仪
产品简介
详细信息
电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器(WDS),与能量色散型X 射线分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特点。因此,EPMA与扫描型电子显微镜(SEM)配置EDS 检测器比较,可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。
优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。
高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。
配备各种自动功能和联动功能,电子束的设定简单易行。
集多年分析经验于一体的控制分析软件,实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。
对于初学者,装备了从SEM 观察到定性分析成图分析的简易可行的简单模式。
数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。
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