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光学仪器及设备光学测量仪折光仪(折射仪)

双折射测量仪PA-Micro

供应商:
北京欧屹科技有限公司
联系人:
王新波 查看联系方式
地址

产品简介

双折射测量仪PA-Micro是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,*的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

详细信息

双折射测量仪PA-Micro主要特点:


双折射测量仪PA-Micro应用领域:


技术参数:

    项次

           项目            

具体参数

1

输出项目

          相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

 

2

测量波长

520nm

 

3

双折射测量范围

0-130nm

 

4

测量小分辨率

0.001nm

 

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

 

6

视野尺寸

142x170um3.5x4.2mm
(×2×5×10×20×50)

 

7

选配镜头视野

 

8

选配功能    

            实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制

 

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