OLED发光效率测量系统
产品简介
详细信息
OLED发光效率测量系统
应用:
有机发光器件OLED
量子点LED
钙钛矿LED等
主要测试功能:
OLED效率测量/EQE测量,功率效率Lm/W 和电流效率 Cd/A;
发射角度-光谱测量;
光谱&颜色测量@发射角;
CIE xyY和显色指数CRI;
可视角测量;
IVL(电流—电压—亮度)测量;
PL光致发光和EL电致发光测量;
p,s极性测量;
OLED发光效率测量系统
主要技术规格:
角度范围:-85°~+85°;
光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;
主要特性:
1.PL和EL发射光谱特性的测量:
- 利用CIE xyY颜色空间展示OLED发光色度;
- 可计算出外量子效率EQE,流明效率Lm/W 以及发光效率Cd/A
- 可视角测量;
- 发射角对应的光谱和颜色;
- IVL电流-电压-亮度曲线测量;
- 光致发光和极化;
- 可与Setfos组合,对发射层进行分析。
2.发射区拟合:通过光谱角度的测量,以及材料的n,k层型结构,计算拟合出OLED的发射区,得到分子取向的分布和发光方向。(拟合需要的信息:OLED所有层的厚度,OLED中所有材料的折射率n和消光系数k )
3.实时监控
- 双峰发射区;
- 高电流密度下,空穴传输层和发射层的变化;
- 频率响应、发射方向、老化过程的监控