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光学仪器及设备光学测量仪折光仪(折射仪)

应力双折射测量仪WPA-200

供应商:
北京欧屹科技有限公司
联系人:
王新波 查看联系方式
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产品简介

应力双折射测量仪WPA-200可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,*的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为*的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的*机器,非常适合用来测量光学薄膜或透明树脂。

详细信息


应力双折射测量仪WPA-200主要特点:


应力双折射测量仪WPA-200主要应用:

光学零件(镜片、薄膜、导光板)

透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

有机材料(球晶、FishEve


技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa


2

测量波长

520nm543nm575nm


3

双折射测量范围

0-3500nm


4

测量小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

<1nm(西格玛)


6

视野尺寸

218x290mm-360×480mm(标准)


7

选配镜头视野

无选配


8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式

测量案例:


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