PHL应力双折射测量仪PA-300-MT
产品简介
PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的优择。
详细信息
PHL应力双折射测量仪PA-300-MT主要特点：
- 操作简单，测量速度可以快到3秒；
- 视野范围内可一次测量，测量范围广；
- 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点；
- 具有多种分析功能和测量结果的比较；
- 维护简单，不含旋转光学滤片的机构;
- 高达2056x2464像素的偏振相机。
PHL应力双折射测量仪PA-300-MT应用领域：
- 小尺寸样品
- 光学镜头
PHL应力双折射测量仪PA-300-MT主要技术参数：
| 项次 | 项目 | 具体参数 |
| 1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
| 2 | 测量波长 | 520nm |
| 3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
| 4 | 测量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
| 6 | 视野尺寸 | 17.5x21mm到33x40mm（标准） |
| 7 | 选配镜头视野 | 6.3x7.5mm |
| 8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 |