QCM-I MicroVacuum耗散型石英晶体微天平
产品简介
详细信息
MicroVacuum耗散型石英晶体微天平是一种高灵敏度质量传感器,可测量石英晶体谐振器和任何吸附膜的频率和耗散变化。 QCM可应用于很多方面:蛋白质,高分子薄膜,生物传感器,化学传感器,腐蚀,聚合物薄膜,纳米颗粒薄膜等。频率和耗散的变化提供了与薄膜质量或弹性变化有关的信息。能够分析分子间的相互作用和表面性质。
测量原理是基于石英晶体的阻抗分析。 确定谐振频率和谐振电导曲线的带宽。 半带宽或全宽,半带宽(FWHM)与质量因子(Q)直接相关,质量因子(Q)定义为耗散的倒数(D)。
同时捕捉到的两个参数F(频率)和D(耗散因子)将绘制吸附物质在表面上排列的状态,以及排列如何随时间变化;一个QCM 芯片的频率响应反映了它表面上耦合质量的变化,包括被困在分子层间的溶剂的质量。耗散反映了薄膜的软硬度。监测这两个作为时间函数的参数,即可对分子是否平躺在表面(刚性膜和水合程度低);或是伸展构型(软膜和水合程度高);以及如果有重排,例如溶胀(从平躺到延伸)或塌缩(从延伸到平躺)等这些变化进行检测。
MicroVacuum耗散型石英晶体微天平特点:
测量谐振的频率和质量(大半带宽或带宽或耗散)
可以快速连续地测量不同的谐波(在5MHz晶体上达13次谐波)
包括4°C至80°C(±0.02°C)的温度控制
EC测量模块可选配ITO-QCM传感器
模块化传感器支架,多4个测量通道
带有Windows®10的外置PC; 通过USB与QCM-I连接
该软件可*控制QCM-I仪器。 有两种测量模式:
共振:共振曲线的测量和共振频率的计算以及高达70 MHz的FWHM
QCM-t:连续测量共振参数和流动池的温度。
计算:可以使用标准或定制模型计算各种QCM和广告层参数。 所有这些参数都可以显示在屏幕上,打印,保存或导出以供进一步评估。
包含项目:
QCM单元有两个温控通道
PC计算机INTEL NUC与Windows®10Pro
QCM传感器支架(流通型)2个
生物传感的3.xx软件(一个用户许可证)
采用半自动进样阀的进样系统