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DRE-2C导热系数测试仪（瞬态平面热源法）
DRE-2C导热系数测试仪采用瞬态平面热源法，主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术，用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。
Hot Disk法的优点有：
(1)直接测量热传播，可以节约大量的时间；
(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响；
(3)无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。
 主要技术指标：
1、导热系数测定范围：0.01—100W/mk
2、测量时间：1-600秒
3、准确度：优于5％
4、温度范围：标准测量：室温，（可根据客户要求选配各种温度段的测试温度，费用另计：如-20℃～120℃）
5、样本尺寸：大于15mm高，大于直径45mm相对平整的样品表面
6、仪器参考标准：ISO 22007-2008.
7、操作方便，测试速快，仅需将测试探头夹在两块岩土等试样块中间，通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数。
DRE-2B导热系数测试仪（瞬态探针法）
DRE-2B导热系数测试仪采用瞬态探针法，适用于测量高粘流体、胶状、颗粒、粉末等材料导热系数。本仪器将法与探针法相结合，在保证测量精度的同时大大提高了操作的便携性，用户仅需将探测器插入被测试样，通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数，特别适合于松软材料、形状各异的成品测试和野外探测。
主要特点：
1. 操作便捷、测试速度快、测量准确
2. 特别适用于现场测量
3. 对样品无特殊形状要求
4. 自动化测试软件，操作方便
5. 配试样温度按制器，可测试样不同温度下导热系数。
主要技术指标：
1. 测量范围： 0.01～5.0 W/(m·K)  
     2. 耐压范围： 常压
3. 温度范围：室温，(检测样品不同温度下导热系数需配温度控制器，费用另计，如-20--120℃)
4. 精    度： <±3.0 %
5. 样品形状： 疏松物质
6. 样品用量： 长度不小于10cm，直径不小于3cm （用量与所配探针大小有关）
7. 测量时间： 5分钟
8、参考标准：ASTM  D5334-92。

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