离子迁移试验装置
产品简介
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离子迁移试验装置是一种依赖性试验设备 ,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
离子迁移试验装置是一种依赖性试验设备 ,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。