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颗粒统计分析测量系统

使用飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统，以快速、 简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统 支持用户收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。

超越光学显微镜分析，*自动化的颗粒统计分析测量系统把 可视化分析提高到了一个新台阶，这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。
 

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出，并生成报告。 所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。

散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来，以揭示相关性和 趋势。飞纳电镜的颗粒系统支持用户获得他们需要的数据。因此，颗粒系统加快了颗粒分析速度，提高了产品质量。

飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统的主要优点：

· 以 ProSuit 为运行平台

· 直接从飞纳台式扫描电镜中获取图像

· 识别并确认例如破损颗粒、附着物和外来颗粒

· 相关颗粒的特征，如直径，圆度，纵横比和凹凸度

· 便捷的操作提升了工作效率并使计划安排简单、可预测

· 可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考，采集图像没有限制

· 飞纳台式扫描电镜的易用性和对环境的良好适应力，使得 任何人都可借此直观研究各种样品

· 同时提供优质照片和海量统计结果
 

颗粒统计分析测量系统的目标应用领域：

· 化妆品行业

· 食品行业

· 化工行业

· 制药行业

· 陶瓷

· 颗粒以及表面涂层

· 颗粒状添加剂

· 环境颗粒

· 过滤器/筛网公司