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光学仪器及设备电子显微镜扫描电镜(SEM)

Phenom ParticleMetric 飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统

供应商:
复纳科学仪器(上海)有限公司
联系人:
杨经理 查看联系方式
地址
荷兰

产品简介

结合飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统,以较快、较简便的方式实现颗粒的可视化分析,代表着微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰成像质量的飞纳台式扫描电镜,加上颗粒统计分析测量系统的颗粒图像分析功能,为用户检验、分析各 种各样的颗粒、粉末样品创造了一个强大工具。

详细信息

颗粒统计分析测量系统


使用飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统,以快速、 简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统 支持用户收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。


超越光学显微镜分析,*自动化的颗粒统计分析测量系统把 可视化分析提高到了一个新台阶,这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。
 

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出,并生成报告。 所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。


散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来,以揭示相关性和 趋势。飞纳电镜的颗粒系统支持用户获得他们需要的数据。因此,颗粒系统加快了颗粒分析速度,提高了产品质量。

 


飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统的主要优点:

· 以 ProSuit 为运行平台

· 直接从飞纳台式扫描电镜中获取图像

· 识别并确认例如破损颗粒、附着物和外来颗粒

· 相关颗粒的特征,如直径,圆度,纵横比和凹凸度

· 便捷的操作提升了工作效率并使计划安排简单、可预测

· 可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流或以后参考,采集图像没有限制

· 飞纳台式扫描电镜的易用性和对环境的良好适应力,使得 任何人都可借此直观研究各种样品

· 同时提供优质照片和海量统计结果
 

颗粒统计分析测量系统的目标应用领域:

· 化妆品行业

· 食品行业

· 化工行业

· 制药行业

· 陶瓷

· 颗粒以及表面涂层

· 颗粒状添加剂

· 环境颗粒

· 过滤器/筛网公司

 

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