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Delphi荧光扫描电镜，Delphi (德飞)，是荷兰扫描电子显微镜制造商 Phenom-World 公司与荷兰荧光显微镜制造商 Delmic 于 2014 年联合推出的将荧光显微镜和扫描电镜高度集成在一起的设备;
Delphi德飞面向广大生物工作者，通过荧光快速定位，电镜高倍观察，并在荧光图像中叠加扫描电镜图像，实现在一张图像中同时获得样品精细结构和功能物质信息，是生物图像高效的解决方案;

Delphi荧光扫描电镜，台式荧光电镜一体机
Delphi荧光扫描电镜 Delphi (德飞)，是荷兰扫描电子显微镜制造商 Phenom-World 公司与荷兰荧光显微镜制造商 Delmic 于 2014 年联合推出的将荧光显微镜和扫描电镜高度集成在一起的设备;
功能简介:德飞面向广大生物工作者，通过荧光快速定位，电镜高倍观察，并在荧光图像中叠加扫描电镜图像，实现在一张图像中同时获得样品精细结构和功能物质信息，是生物图像高效的解决方案;
高效、简单:德飞具有占地小，操作简便，图像自动重叠，软硬件高度整合等优点，是连接荧光和扫描电镜的桥梁;
自动精准定位:飞纳荧光扫描电镜一体机 Delphi (德飞) 使用无缝切换技术，无需人工干预就能得到精度高达 200nm 的荧光和电子叠加照片;
电镜不能感知荧光信号，光电关联技术（CLEM）的难点在于样品观察点的定位，德飞（Delphi）使用图像无缝切换技术，两种光路对同一视野原位成像，成功解决了这个难题。德飞（Delphi）的电子束自动校准技术，无需人工干预就能得到精度高达50nm 的荧光和电子叠加照片，既节约了用户的时间，又确保叠加图像的可信度。

Delphi荧光扫描电镜参数：
电镜分辨率:优于 14 nm
电子放大:gao到 130,000 倍
探测器:四分割背散射电子探测器
灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝
加速电压:5 kV-10 kV连续可调
荧光分辨率:290 nm（在 550 nm 发射波长下）
荧光物镜:平场复消色差物镜 40X (NA0.95)
滤光片:DAPI, FITC, TRITC, Cy5 或者其他的
荧光彩色CCD相机:2,048X2,048 像素,像素尺寸 6.5 um
荧光光源:四通道 (LED) 激励源,激发在 392/474/554/635 nm
重合精度:200 nm
载物台:全自动马达载物台
抽真空时间:小于 60 秒
光学导航显微镜:放大 20-120 倍
功率:700 W

飞纳的历史：
1997 年，FEI 和飞利浦电子光学宣布合并其业务，其产品代表全*的电镜技术。
2006 年，FEI 成立Phenom-World公司，发布第yi台飞纳台式扫描电镜（PhenomDesktop SEM)， 放大倍数10,000 倍， *使用高亮度 CeB6 灯丝。
2 0 1 2 年 3 月， K a r e lvander Mast 教授带领原飞利浦电镜部门精英研发出世界*电镜能谱一体机，开创电镜能谱设计新理念，两年销量 790 台；同时推出粗糙度测量等功能性软件。
2014 年 9 月，Phenom-World 推出新产品 Phenom XL， 样品尺寸100*100 mm，可选配二次电子，同时推出孔径测量统计系统。
2015 年，Phenom-World推出第 4 代产品，分辨率达到 14 纳米，放大 13 万倍；同年，Phenom-World 推出了世界*荧光电镜一体机 Dephi，首将关联电镜技术发展成为台式设计。
2017 年，Phenom-World推出 Phenom Pro-2017，分辨率达到 7 纳米， 放大15 万倍。同时发布可用于Phenom XL 全自动显微平台的 U 中心样品台（Eucentricstage) 和 1000N 拉伸台(Tensile stage) 。

飞纳：数秒之内，遍览微观世界
快捷，出众，可靠的电镜成像分析设备台式扫描电子显微镜设计，创新型用户使用界面，直观的触控设置提供在诸多领域中要求的高分辨率以及高质量分析成像。高性价比、操作简便、快速成像的飞纳台式扫描电镜成为工程师，技术员，研究员以及科教专家观测微米以及纳米结构的青睐
gao放大15 万倍，分辨率优于7 nm
长寿命(1,500 小时)/ 高亮度/ 低色差CeB6 灯丝
表面细节丰富的高质量图片
内置彩色光学显微镜
自动马达样品台，光学与低倍电子双重导航
15 秒快速抽真空，操作简单
防震设计，对放置环境无特殊要求
样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，无需喷金

飞纳电镜共有特点：
■ 分辨率高的台式扫描电镜--飞纳使用CeB6 灯丝：CeB6 灯丝钨灯丝成像效果高质量、大景深图片（复旦大学ZnO） 150,000 倍图像相同参数下CeB6 成像效果CeB6 灯丝的信号是钨灯丝的10 倍，信号更多，色差更低。
■ 使用CeB6 灯丝的电镜，成像和能谱的分辨率均优于同类钨灯丝电镜10nm@10kV（背散射电子探测器）；7nm@10kV（二次电子探测器）使用CeB6 灯丝，低加速电压成像优势明显，图像细节丰富：飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM) 使用高亮度的CeB6 灯丝，工作温度低，电子逸出功小，束斑直径小，能在 5KV 低加速电压下稳定成像，在保证图像分辨率的前提下，减轻高加速电压带给图像的穿透效应，同时减少电子束对样品表面的损伤。
■ 使用CeB6 灯丝，1,500 小时寿命，2-3 年更换一根灯丝，后期维护简单
■ 高灵敏度四分割背散射电子，形貌& 成分两种成像模式（飞纳台式扫描电镜（Phenom DesktopSEM) 采用四分割背散射电子探测器，给出样品成分和形貌信息，为您提供两种成像模式，飞纳台式扫描电镜（Phenom DesktopSEM，可以快速的在两种成像模式间任意切换。）
成份模式（Full mode）:同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其对比度的不同加以分辨。
形貌模式（Topographical mode）: 在图像中去除了成份不同所造成的差异，强化样品的3D 信息，使样品表面的凹凸起伏等微观结构更加明晰。尤其适用于表面粗糙度和缺陷分析。
■ 高效 + 简便的扫描电镜
■ 一步制样，快速成像，实现课题组或者工厂批量测试目标（ 15 秒快速抽真空）
■ 不喷金，直接观察绝缘体：飞纳台式扫描电镜（PhenomDesktop SEM) 采用低真空技术，背散射电子成像，可以有效抑制荷电效应的产生，使得直接观测各种不导电样品，样品无需喷金喷碳。利用降低荷电效应样品杯，更可将起始荷电的放大倍数提高8 倍左右。
■ 内置高精度自动马达样品台，轻松移动样品观测区域：飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）*的光学/ 低倍SEM 导航功能，为您全程提供全部/ 局部待测样品的导航图像，点击您感兴趣的区域即可准确移动样品，不必再频繁缩小、放大图像，方便您在不同样品、同一样品不同区域之间切换，轻松实现想看哪里点哪里。
■ 飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）分为光学显微镜和电子显微镜，通过光学显微镜会生成光学导航界面，提供样品全景导航，同时结合自动马达样品台快速移动样品功能，实现为用户提供样品全程导航。
■ 飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）结合控制旋钮和高性能显示屏调节SEM 图像，轻松点击您想观测的区域即可快速定位利用控制旋钮和鼠标点击您可完成以下操作：
自动/ 手动聚焦
自动/ 手动亮度对比度调节
自动/ 手动灯丝对中调节
自动样品移动
■ 光学与低倍电子双重导航，准确定位观测区域：飞纳台式扫描电镜（Phenom DesktopSEM）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM 导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）*的光学导航和低倍SEM 导航窗口，导航窗口中的彩色矩形框指示了主窗口中的观测区域。
■ 专业的防震技术（安装简单，不受外界环境干扰）：您可以根据需要来放置飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM），如高层实验室、办公室，或与其他设备放在一起，如厂房、车间，甚至一辆车上。同时飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）专业的防震技术，可进行现场取样观察。
■ 可靠、方便的维护：*的远程联网检测，原厂工程师与您一起维护电镜，实时确认故障原因，迅速准备配件。荷兰 Phenom-World 公司的售后服务团队可通过互联网检测用户电镜的使用状态，与用户一起维护电镜，确保电镜总是处于良好状态。
■ 适用于不同领域的载样样品杯：温度控制样品杯（冷台+ 热台）（选配）：飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM) 样品杯和低真空设计，耗时仅为传统电镜的1/10，*提高工作效率。自动控温，适用于生物、有机等样品，使样品减少水分的蒸发，得以保持原貌，并且减少电子束对样品的损伤，延长观看时间。
大样品尺寸：直径25mm；高5mm
控温范围：-25℃～ +50℃　
自动倾斜/ 旋转样品杯（选配）：内置微型马达，计算机控制倾斜、旋转角度，为您呈现样品的隐藏特征，展现3D 图像效果。
大样品尺寸：直径12 mm；高度5 mm
倾斜角度：-10° ~+45°
旋转角度：360°连续
适用于不同领域的样品杯
标准样品杯
适用于高分辨率成像，可用于观测粉末，薄膜，及各种
不规则形状的三维样品。
大样品尺寸：直径25 mm；高30 mm
降低荷电效应样品杯（选配）
无需喷金，可以直接观察不导电样品，从而获得
样品的原始形貌和成份信息。
大样品尺寸：直径25 mm；高30 mm
超大样品台（标配，仅适用于 Phenom XL）
Phenom XL 电镜腔室由原来的直径32 mm 扩容为100
mm x 100 mm，一次可容纳至少36 个1/2 英寸样品台
大样品尺寸：长100 mm；宽100mm ；
高度： 40 mm　　
标准/ 降低荷电效应金相样品杯（选配）
在显微图像观测中，获得表面平滑的样品的常规办法是镶嵌和抛光等技术。金相样品杯可用于观测镶嵌在树脂等材料中的样品。
大样品尺寸：直径32 mm；高30 mm
微型电子器件插件（选配）
用特制夹具将微型电子器件无损的固定在样品杯中。测试后，样品可以重新回到制备环节中去，无损耗。
配套金相样品杯使用
X- 断面观测插件（选配）
适合于涂层以及多层半导体器件等断口、断面的观测，且不需要螺丝等其它工具来固定样品。
配套金相样品杯使用
丰富的拓展功能：Phenom ProSuite 应用模块
Phenom ProSuite 是专为飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM) 设计的应用模块，其开发目的是使用户可以从飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）的SEM 图像中提取更多信息，拓展飞纳台式扫描电镜（PhenomDesktop SEM）的应用，满足特定的用户需求。
超大视野图像拼合
应用超大视野图像拼合模块可以得到大范围的高分辨图像。用户只需在总览图中定义扫描区域，该模块将自动开始以的分辨率对该区域进行扫描。所得图像将拼合成一副全景图像加以保存，方便进行进一步的观测。
主要特点：
大８.07mm 的超大视野（FOV），完整呈现样品全貌
自动采集图像，每分钟可采集超过100 张1,024 x 1,024
分辨率的图像
可与纤维系统联用
高达1 亿像素的超高分辨率
简明的单页用户界面，操作简便
孔径分析测量系统（选配）
孔洞分析（PoroMetric）软件可以搜集孔的分布数据，提供全自动的孔径、形状、尺寸、数量和分布分析；测量数据、柱状图和生成的图片可以根据选择的格式输出在报告里。利用飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）和孔洞分析（PoroMetric）软件，孔洞的可视化分析将更加简单。
适用领域：过滤/ 筛网行业、泡沫行业、陶瓷行业、制药行业、无纺布行业等；
孔洞测量系统的功能
1. 进行孔洞分析
孔洞尺寸范围：100nm~0.1mm
孔洞检测速度：高达 1,000 个/ 分钟
孔洞测量属性：尺寸、形状、数量
2. 可以测量的孔洞参数
面积、当量圆直径、长宽比
长轴长度和短轴长度（椭圆）
3. 提供的图形/ 数据显示
按当量直径的柱状图
所有孔洞的各项参数值
所有孔洞的平均参数值
4. 提供的图形输出
Word 版本 docx 格式的报告
TIFF 格式的图像
CSV 文件
离线分析的项目文件（.POME）

颗粒测量系统（选配）
颗粒测量系统（ParticleMetric）是一款基于飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）的颗粒分析系统，用于实现颗
粒可视化分析，由Phenom-World 公司历经3 年研发，于2013 年11 月1 日在荷兰发布。
颗粒测量系统的功能
1. 进行颗粒分析
颗粒尺寸范围：100nm~0.1mm
颗粒探测速度：高达 1,000 个/ 分钟
颗粒测量属性：大小、形状、数量
2. 可以测量的颗粒参数
面积、当量直径、外接圆直径、表面积、周长、宽高比
充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆）
凸壳体、重心、像素点数、凸状物
3. 提供的图形显示
按数量或体积的线性、对数、双对数点状图
任何参数的散点图
单个颗粒的 SEM 图像
4. 提供的图形输出
Word 版本 docx 格式的报告，TIFF 格式的图像CSV 文件，离线分析的项目文件（.PAME）
配合高倍拼图软件，可实现全样品颗粒分析
颗粒分析系统界面
适用领域：化妆品、食品、化工、制药、陶瓷等行业；颗粒以及表面涂层；颗粒状添加剂；环境颗粒；过滤/ 筛网等
颗粒系统可根据实际需要生成“散点统计图”或“柱状统计图”。同时能够给出每个颗粒的所有参数，也能给出所有颗粒的各项平均、中位参数值。
颗粒分散设备
用 Nebula Ⅰ 可以在 SEM 样品台上实现干粉均匀分散，可以获取单层颗粒，同时避免颗粒的团聚，保持颗粒的结构完整，为用户提供制样方法，获得更好的颗粒分析结果。
Nebula Ⅰ 参数
粉末尺寸范围：0.1~1,500 μm
分散真空度范围：0~0.8 Bar
压力设置精度：0.05 Bar
3D 粗糙度重建（选配） 经典软件
3D 粗糙度重建模块（3D Roughness Reconstruction）是飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM) *的强大图像处理工具。借助3D 粗糙度重建模块，飞纳台式扫描电镜（Phenom Desktop SEM）可以产生样品的3D 还原图，对其进行任意旋转，并进行亚微米量级的粗糙度测量。
主要技术参数：
1. 自动实时创建3D 图像
全 3D 图像
2D 或 3D 图像，通过颜色指示高度
过滤后的 3D 图像
2. 自动粗糙度测量
Ra（平均粗糙度）和 Rz（粗糙高度）
用户设定波纹过滤
支持 5 线同时测量
支持面粗糙度测量
3. 自动生成统计信息CSV 文件
4. 观测视野 (FOV) 10μm ～ 2mm
纤维系统（选配） 经典软件
纤维系统（FiberMetric）可以测量从纳米到亚微米量级的纤维，数秒之内采集数百纤维的直径信息，每个数据点均经过50 次测量取平均值。根据统计信息自动生成纤维直径分布柱状图，并导出数据文件。
应用领域： 过滤、纺织、纤维、造纸、烟草、光纤等研究领域
纤维系统主要特点：
自动测量，节省时间
自动生成统计数据
与飞纳电镜同步，实时测量
输出：
xml 数据文件（包括直径测量和孔径测量）
JPEG、TIFF 格式图片
大 2,048 x 2,048 图像分辨率
纤维尺寸分布统计图
小、大及平均纤维尺寸