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SediGraph III 51 全自动Χ光沉降粒度分析仪

供应商：
麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司
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产品简介

SediGraph III 51全自动Χ光沉降粒度分析仪，新一代的粒度分析仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合，提供出色的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III通过X射线吸收测量样品质量，利用标准的沉降法测量粒度，无需建模。该产品的技术已成为造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。

详细信息

SediGraph III 51全自动Χ光沉降粒度分析仪

    SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。

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久经考验的技术和可靠性

       在过去的三十多年中，麦克仪器公司的SediGraph是*许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其出色的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1~300μm。

 

  • 产品应用
  • 软件和数据报告
  • 应用笔记、文献和参考书目
  • ASTM 方法

智能设计特色

SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性*的结果。

• 高精度X光管终身保修（7年）

• 简化泵系统，确保快速分析和易于维护

• 降低噪声，提供更加安静的工作环境

• 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护

• 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性

• Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作

• 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）

SediGraph III 51全自动Χ光沉降粒度分析仪多项功能

  • 完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分
  • 能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用
  • 自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时至小化颗粒分离所需的时间
  • 全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差
  • 控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分析结果
  • 多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率
  • 实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序
  • 统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应
  • 多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如：与参考样品或基线叠加，或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加
  • 数据比较图，能够提供两套数据组（不同于参考图）图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度（图以外）
  • 能够使用同一台计算机同时控制两SediGraph，节约宝贵的实验室空间，方便数据存储
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