EDX-GP EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置

EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置凭借zui大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助zui大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定

高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA6000VX

凭借zui大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助zui大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置。

zui多可500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式，因此在测量大量样品是，也可发挥高效率。

通过ecentric Lens 系统和高速・高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。zui大250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置zui小误差为100 µm以内的精确定位。

在FT系列中被*的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量。

RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量。

通过安装充氦选购项，可以分析钠开始的轻元素。测量中能够独立运转的氦气系统。将使用成本zui大化降低。

笔记本、手机等不能透过外包装看到内部构造的产品，无需拆解就可得到不仅仅是基板上的Pb，甚至其他各种元素的扫描图。通过比较X射线照射后得到的元素扫描图像，可以了解关于产品内部部件构造的各种情报。

EA6000VX通过快速扫描功能可以在几分中内检测出宽广范围（zui大250 mm×200 mm）内含有的几十 µm的微小金属异物，并查明其具体位置。也可检测出树脂等有机物内部还有的微小、微量金属异物。

自动接近、防止冲撞功能操作台上样品一旦设定好启动后，自动测量出样品的zui大高度，移动到的测量高度。即便是复杂形状的样品，操作员也可轻松测量。另外，即便通过操作指南调整了测量高度，由于安装了防止冲撞传感器，因此不会使样品受到损伤。

使用具有快速扫描功能的EA6000VX ，无需拆分样品即可测量特定部位的微小区域以及对整张线路板的有害物质进行管理，可对应以往机型难以对应的要求。

测量元素	原子序号Na(11)～U(92) * 充氦选购项
样品形状	液体、粉体、固体
X射线源	小型空冷室X射线管（Rh或W靶）管电压50（可变） kV 管电流20～1000 µA
X射线照射方向	上方垂直照射型
检测器	Vortex（SSD检测器） *（无需液氮）
分析区域	0.2, 0.5, 1.2, 3.0 mm□（自动切换）
样品观察	高分辨率CCD摄像头2系统
滤波器	6种模式电动切换
zui大样品尺寸	250（W）×200（D）×150（H） mm
仪器尺寸	750（W）×740（D）×783（H） mm *电器箱另置
重量	160kg
电源/额定功率	AC100～240 V(50/60Hz)/400 VA
自动进样器	连续多点测量功能