WIBON-50R 测量显微镜,台阶仪,工业显微镜
产品简介
实现快速弧高及台阶测量:综合放大倍率8.0x—100x ,支持偏角观察功能。
可测弧高台阶范围1.0um — 20mm(一般弧高的高度不超过800um)
详细信息
核心功能描述:
实现快速弧高及台阶测量:综合放大倍率8.0x—100x ,支持偏角观察功能。
可测弧高台阶范围1.0um — 20mm(一般弧高的高度不超过800um)
核心系统配置:
用途
1. 金线弧高测量
2. 金线偏角观察
3. 台阶测量
型号
Wibon-50R
样品台
X平移、Y平移、R旋转,实现*360度观察
聚焦
电动聚焦系统,影像自动聚焦功能;Z轴线性反馈系统,
解析率
:1.0um;
探测系统
特殊显微组合设计;
综合放大倍率
8.0x~100x;
带偏角观察功能
照明方式
环形/ 同轴照明可选
软件系统
全功能图像处理软件系统
带虚拟弧高算法功能
检查性能
带高品质影像抓拍功能
重复性精度:
开环控制 3σ<5.0um
闭环控制 3σ<1.0um