纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪Zetasizer Nano 系列

纳米粒度、Zetasizer Nano ZS纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪Zetasizer Nano 系列

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2015-12-01 09:00:00
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产品简介

纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪Zetasizer Nano 系列
代表当今水平的马尔文新一代Zetasizer系列纳米粒和Zeta电位及分子量分析仪, 应用光散射原理, 功能强大, 能够简单快捷的表征纳米颗粒, 胶体和蛋白质的物理特性,被广泛用于纳米材料及 生命科学和药物等诸多领域,成为科学研究及质量控制*的zui有效的分析系统。

详细介绍

纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪Zetasizer Nano 系列

创新点:新一代Zetasizer系列经过全面技术革新与系统优化,在光路传输系统,信号处理技术和软件设计上应用了突破性的创新科技,融合了新一代PALS+M3,NIBS背散射及折叠式毛细管样品池设计等多项技术,使其灵敏度,稳定性和检测范围等有了革命性的提高,各种重要测量指标表现亦达到了的高度(指标详见仪器介绍).


代表当今水平的马尔文新一代Zetasizer系列纳米粒和Zeta电位及分子量分析仪, 应用光散射原理, 功能强大, 能够简单快捷的表征纳米颗粒, 胶体和蛋白质的物理特性,被广泛用于纳米材料及  生命科学和药物等诸多领域,成为科学研究及质量控制*的zui有效的分析系统。


 

详细信息

Zetasizer Nano ZS 仪器简介:

新一代Zetasizer Nano 系列可以为胶体和聚合物化学专家提供综合测量三项zui重要参数的能力,即粒度、zeta 电位和分子量。
这些系统中内置了新技术,提供无比的灵敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。

Zeta 电位 - M3-PALS 技术能够对水分散和非水分散体系中的 zeta 电位进行精确的测量。

分子量 - 雪崩光电二极管检测器和光纤检测光学装置提供测量分子量所需的灵敏度和稳定性。 

Zetasizer Nano 系列中,可根据实际应用选择Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型号
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的*,能够测量所有三项参数,而且性能丝毫不减。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 电位样品池,避免样品之间的交叉污染。

所有系统均可与 MPT-2 自动滴定仪连接使用,实现趋势测量和样品制备的自动化。 




 



Zetasizer Nano ZS 技术参数:

粒径测量
zui大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm *
浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v *
检测角度: 175º 和 12.8º
zui小样品量: 12 μl 

Zeta电位测量 
Zeta电位范围: 无实际限制 
电泳迁移率: 0 – 无实际上限
zui大样品电导率: 200mS/cm
zui大样品浓度: 40% w/v
zui小样品量: 150 μl 
粒径范围: 3.8nm - 100 μm *

分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射)
                      980 - 2 ×107 Da * (静态光散射)
zui小样品量 12 μl

* 取决于样品



Zetasizer Nano ZS 主要特点:

新一代Zetasizer Nano系列纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪 
持续革新与优化 树立纳米分析新*

融合多项技术 挑战颗粒表征极限 
 粒度范围极宽:0.3-- 10 μm
 浓度范围广: 0.1ppm—40%(w/v)
 测量分子量
 高分辨率高灵敏度Zeta电位测量 
     zeta电位样品池具有所需样品量低至150 μl 和检测高浓度样品zui高至40%(依赖于样品)的极限能力

多项技术
 马尔文NIBS非侵入背侧光散射技术使仪器具有zui高灵敏性
 马尔文的新一代PALS+M3技术,将*的硬件与软件技术相结合,有效检测散射光的相位变化
 马尔文的毛细管样品池电极组件,真正避免交叉污染

强大多功能系统
 **的APD检测器,灵敏度无出其右
 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的稳定性
 标准配置研究级高速数字相关器
 175度和12.8度相结合的双角度测量模式,洞悉体系中的缔合物含量

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