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SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计,SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。
SR-750可以配用多种附件,拓展应用领域,在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供*的系统解决方案。
SR-750的主要技术指标:
焦距长度 | 750mm |
通光孔径 | f/9.8 |
焦平面尺寸 | 28mmX14mm |
光谱分辨率 | 0.03nm |
波长重复性 | ±0.05nm |
光栅尺寸 | 68mmX68mm |
光谱仪外观尺寸 | 860mmX393mmX213.5mm |