高级自动识别比对显微镜

AICM100高级自动识别比对显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-01-12 11:00:00
1005
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上海衡光仪器有限公司

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产品简介

1、计算机智能化自动寻找*位置—自动对焦 2、计算机自动采集分析线条状痕迹特征—自动提取 3、案件现场线条状痕迹特征数字化存储—自动建库 4、案件现场线条状痕迹特征智能排查—自动检索 5、案件现场线条状痕迹特征与库内图像检索—自动比对 6、案件现场线条状痕迹比对结果量化输出—自动识别 7、痕迹特征超景深图像处理—不同层面立体显示

详细介绍

一、痕迹自动识别软件介绍
   
该系统采用美国*数字图像处理技术与图像识别比对计算方法,结合痕迹特征智能化自动提取技术及模糊识别技术,创造性开发出的高科技新产品,对各类钳剪、砍切、擦划、撬压等各种线条状痕迹,通过计算机进行自动对焦→自动提取→自动建库→自动检索→自动比对→自动识别,zui终结果以结合率高低输出量化数据及图像照片。系统搜索速度快(每分钟1000幅图像)、精度高、自动识别能力强,比对选择方案多样化,可同时对案件相关痕迹进行微机化图文管理,克服了传统的人工比对凭经验判断以及劳动强度大、速度慢、易出错等缺点,从而使检验效率更高、操作更方便、数据更准确。
二、主要参数
1、光学系统:平行光光学系统
2、镜头:美国NAVIETA光学镀膜镜头,分辨率≥3300NA
3、目镜:WF10×/23WF16×/18;目镜筒距:5575mm可调
*4、物镜:0.65×~4.5×连续变倍;变倍物镜1.75×,前端镜0.5×,美国NAVIETA同焦设计连续变倍镜头
*5、比较桥升降:计算机控制,升降高度280 mm,升降机构采用进口模组,终身包换
6、工作台:三维万向角度调节工作台,X/Y轴方向旋转角度±45°
*7、电动载物台:载物台面积:210mm×120mm;计算机控制左右载物台X/Y轴移动范围:145mm/95mm,,软件操作。Z轴升降范围:60mm,对焦方式为计算机控制自动对焦
8、移动范围:计算机控制左右载物台同步扫描移动60mm
*9、照明模式:1)同轴光:采用镜头内部同轴光设计,同时提供偏振光、斜照明多种照明方式。2)12V/20W 风冷冷光源,12V/100W灯箱冷光源,配有800mm冷光源光纤照明,500mm线形冷光源光纤,光纤宽度300mm,1mm,照射角度05°可调,亮度多级可调
10、数码照相摄像系统:1000万像素彩色数码照相摄像系统,超大面积显示晶片:17mm*13mm,可进行照相及摄像
11、工作台 :全电动升降检验工作台
12、显微镜操作:计算机控制、鼠标操作、触摸屏操作多种选择方式
13、多功能夹具:转动调节*卡具;25mm 80mm毫米可倾斜载物台; 10毫米顶针;活动关节夹;线夹、卡具附件箱;
*14、痕迹自动识别系统:对各类钳剪、砍切、擦划、撬压等线条状痕迹等检材通过计算机进行自动对焦→自动提取→自动建库→自动检索→自动比对→自动识别,zui终检验结果按结合率高低量化输出数据及图像照片,搜索速度每分钟1000幅图像。
*15、超景深图像处理系统:采用计算机自动分层照相,提取每幅图像的信息,将不同景深的图像融合为一幅超大景深的清晰图像,80倍景深≥10mm,可完成高倍数下多张显微照片的拼接功能。
16、工控机一台:CPU奔腾E双核In Pentium E5800 3.2G;内存2GB;硬盘320GDVD光驱;512M独立显卡;19寸液晶显示器;
17、彩色激光打印机一台。 

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