薄膜测厚仪

CH-1-S手持式塑料薄膜测厚仪 产品概述

本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适合用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

CH-1-S手持式塑料薄膜测厚仪 主要技术参数

1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下测量面为平面时，测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
3、上下测量面为凸/平面时，上测量面的曲率半径在15-50（mm）时，其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。
4、测量精度
100um以内 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

CH-1-S手持式塑料薄膜测厚仪 使用方法
1、测试前转动表盘让指针调到零位，并试行按动捏手几次，回零后方可测试。
2、使用时按下捏手使测头升起，将被测物件放于上下测头之间，轻放捏手使之接触，此时读数即为被测试样的厚度。
3、为使测试准确，可在同一被测物的不同位置进行测量，取其平均值。
4、使用完毕，应将一起擦净，装入仪器盒，放置干燥处，放置受潮。