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镀层和涂层测厚仪
*beta射线反向散射测量技术
*依照标准ASTM B567,ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则
*应用在测量许多经典结构的镀层厚度,包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy),光致抗蚀剂photoresist,铜上镀银(Ag/Cu),科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar,铁上镀氮化钛Ti-N/Fe,锡铅合金Sn-Pb。
* Micro-Derm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍(Ni/Cu)的厚度。
*探头系统可以用于精确测量各种样品表面,从小零件(连接器和端子)到大零件(印制线路板)。
l Micro-Derm BBS厚度标准片(4点设定)包括:纯材料的底材,表面镀层的纯材料无限厚片和两块经过NIST(美国联邦标准技术委员会)认证的标准厚度的薄片。
l 高质量的制造技术确保尽可能精确的镀层厚度测量。
l 设计体现了的易操作性和高效率。
融合了beta射线反向散射和霍尔效应测量技术。避免了因为存在两种需要而购买了两种仪器的麻烦。
*紧凑的设计
*全面的测量能力
*经济的X射线荧光分析仪器的替代品
*提高生产量
*45种标准档案记忆允许用户快速的进行应用转换。
*的NOVRAM 设计使得即使在备用电源断电时仍可以保留有价值的校准档案。
*标准校准模式:4点,3点,2点,线性,多点和Sn-Pb.
*特殊的多点Sn-Pb校准模式可以对不同的Sn-Pb组分进行自动补偿和修正。
*新的3点BBS模式并不需要纯材料镀膜标准片。
*多点校正模式应用于霍尔效应测量(测量镍厚)。