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键盘按键寿命试验机
YTX-KLT-E，源泰鑫仪器
本机可测试笔记本计算机、手机、掌上计算机等的按键和其它各种按钮、开关的耐久寿命。
能同时测试数个产品（每个产品均可多点测试），另每个按键可设定不同压力及不同高低的按压力。
技术规格：
动作行程 10mm（固定）
工件高低调整范围 100mm
夹具夹持能力 400×300mm
测头安装范围 350×250mm
试验次数 999999×10次
试验速度 60-300Rpm
荷重范围 50-450g
测头高低调整 15mm
测头数量 15个
两支测头最小间隔
X方向10mm,Y方向20mm
外观尺寸 520×420×980mm
重量 110kg
电压 AC 220V
