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*药品中杂质快速自动鉴定方法

时间:2017-01-10      阅读:861

  王志英
  
  沃特世科技(上海)有限公司
  
  简介
  
  *(Cefdinir)属第3代头孢,日本藤泽药品工业公司原研,1991年在日本上市,商品名Cefzon。1997年12月在美国上市,2001年国产*获准在中国上市。该品具有抗菌谱广、抗菌作用强、临床疗效高、毒性低、过敏反应少、方便使用等特点。近年来,国内已准备开发其仿制药。但如今基于药品安全的考虑,仿制药中的有关物质的检测越发引起注意,中国药典上也明确规定,药物中杂质含量高于0.1%的所有杂质均需对其杂质结构进行鉴别(毒性药物限度则更低)。所以,如何快速地测定药物中的杂质,这一课题逐渐成为药物研究过程中亟待解决的难题。
  
  中国药典中*有关物质检测方法所用的流动相为四甲基氢氧化铵——磷酸(pH5.5)体系,无法进MS系统;采用普通HPLC色谱柱检测方法时间长,约需60 min,且杂质较多。这都给*杂质鉴定带来挑战。
  
  本文采用沃特世(Waters?)超液相色谱飞行时间质谱联用(ACQUITY UPLC/Xevo G2-S QTof)技术对市售*样品杂质进行分析,开发与质谱兼容的UPLC方法,使整个分离时间缩短至14分钟,且杂质得到有效分离;应用UNIFI软件,自动得到包含各个杂质分子量、分子式及结构信息的杂质列表,使整个杂质鉴定过程快速、节省人力。

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