SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455 产品特点： ★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管） 可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。 ?　能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量 ? 对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 ?　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 ★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域 ★ 适用超微小面积的测量 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。 ★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统 ★ 拥有防冲撞功能 ★ 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455） ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 产品介绍： SFT9000系列里zui高级的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。 SFT9400系列产品规格 型号 SFT9400/SFT9450/SFT9455 仪器的特长 微小面积对应及高性能型 可测量元素 原子序号22（Ti）~ 83（Bi） X射线源 小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶） 管电压：50kV 管电流：1.5mA Be窗 滤波器 一次滤波器：Mo-自动切换二次滤波器：无 照射方式 上方垂直照射方式 检测器 半导体检测器+比例计数管（不需液氮的检测器） 仪器校正 自动校正+手动校正 准直器（标准配置） ○型（Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm） 安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能 样品图像对焦 有（激光对焦） 样品观察 CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明 焦点切换功能 3段切换9400：10/40/70mm 9450：10/25/40mm X-ray Station 台式电脑 （OS; MS-Windows XP?） 打印 喷墨打印机 应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 软件 块体FP法软件、薄膜FP法软件 测量功能 自动测量、中心搜索、图像识别处理 修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正 统计处理功能 MS-EXCEL? 报告制作功能 MS-WORD?     有需要的有友请希望我们能成为*的合作伙伴。

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