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用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点zui小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
● 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 程控样品台：XYZ轴自动控制。
● 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
● 全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
● Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。
● 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
CMI900/950主要技术规格如下：
| No. | 主要规格 | 规格描述 | |
| 1 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |
| 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | |||
| 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选 X射线管功率可编程控制
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| 装备有安全防射线光闸
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| 2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 | |
| 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||
| 位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口 | |||
| 3 | 准直器程控交换系统 | zui多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 | |
| 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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| 4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器） | |
| 在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器） | |||
| 5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |
| 装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路 | |||
| 6 | 样品室 | CMI900 | CMI950 |
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| －样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 |
| －zui大样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －XY轴程控移动范围 | 标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
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| －XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | ||
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产品系列：· CMI120磁性测厚仪（膜厚仪）
· CMI140涡流测厚仪 （膜厚仪）
· CMI150两用测厚仪 （膜厚仪）
· CMI233双探头测厚仪（膜厚仪）
· CMI243测厚仪（测铁上镀锌、镍可达到700测厚仪精度）
· CMI700测厚仪（膜厚仪）
· X射线荧光测厚仪（膜厚仪）
