X射线荧光测厚仪X-Strata960
应用范围：
•测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成.测量范围从22（Ti）到92（U）.
•5 层（4 镀层+ 基材） / 15 元素/ 共存元素校正
•组成成分分析时可同时测定15种元素
•测试方法全面符合ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
仪器特点：
•50 Watt 微聚焦X光管：提高计数率, 改善测试精度, 75 W升级
•多准直器系统：提高了应用能力
•镭射聚焦：更高的重现性
•标准配置FP 软件包：复杂样品应用模式，更容易建立标准曲线
•开槽式样品台设计：3种样品台，更适合样品装载
•7种语言可用：用户界面; 英文, 中文, 日文, 韩文, 法文,德文,西班牙文
技术参数：
•X射线激发系统：50 W （50kV /1mA） 微聚焦W阳极管
•探测器：充Xe封气正比计数器,带二次滤光片
•Digital Pulse Processing：4096 CH 数字多道分析装置. 自动信号处理,包括死时间校正和消除脉冲积累
•计算机：Pentium 4, 2.8 GHz, 40 GbHD, 256Mb RAM with MicrosoftTMXP
•电源：85~130 或215~265 伏特, 47Hz 到63Hz
•工作环境：50°F （10°C）到104°F （40°C） ,98% RH, 不凝固
•工作台行程（XYZ 程控）：6” X 7” x 1.9” （15.2cm X 17.8cm X 4.8cm）
