标准：
1．GJB150.5 设备环境试验方法：温度冲击实验

用途及特点：
1．适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。
2．试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭
　 ，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。
3．试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。
4．采用进口全封闭风冷压缩机，进口可触式控温仪表。
5．工作室采用镜面不锈钢板，外壳静电喷涂。