电子连接器的耐插拔测试方法
公告
EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在zui短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用。

对于*标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其内容,故在此过程中EIA对任何所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任。

EIA标准根据标准制定﹐但是电工协会还没有提出EIA标准与IEC标准的有效的对照。

该标准的提出不是意在安全问题或适用性做硬性规定﹒标准使用者的职责是在使用前建立起一个安全健康的实践体系和确定某些标准的适用性。

　　（摘自NO.2377建议标准，EIA P-5.1下属连接器委员会形成）
　　
电子工业协会（EIA）工程部出版
2001年华盛顿D.C.20006，N.W.宾西法尼亚大道。

价格：请参照时价
EIA，JEDEC标准，工程出版物或者称为工程文件，美国、加拿大（1-），（714-261-1455）

1992年印刷
版权所有,U.S.A印制

电子工业协会测试方法#09B

电子连接器耐插拔测试方法

此EIA所*的标准是基于电子技术委员会（IEC）的技术内容;*512—5,测试9a,机械操作,1977.它符合此IEC*的所有必要方面.

电子工业协会测试方法#09B
电子连接器的耐插拔测试方法

1.0 TP—09A 耐插拔
2.0 目的﹕
此测试程序的目的是介绍一种统一的测试方法，此方法模拟连接器的预期寿命来测试电子连接器周围环境对插拔造成的影响﹒带有量规的插拔只用来产生机械应力﹐而带有装配组件的耐力测试产生机械应力和磨损应力。
3.0 仪器
3.1 参考文件要求的配合组件。
3.2 夹片，夹钳或其它连接器夹持工具或测试量规通过半系统测试恰当结合使用可以自由滑动（假如连接器规格说明有要求）。
3.3 速度下自动或半自动的连接器插拔检测机,如果参考文件没有特别说明,应采用正弦曲线运动﹒
注﹕如果参考文件说明可允许人工测试.﹐则须细心确保一致性和定位及校准﹒
4.0 样品准备
4.1 测试样品应包括所有应用的指导书﹑关键组件及硬件设备，终端使用适宜的电线或电缆。
4.2 使用合适的安装工具将样品安装在正常的操作位置上﹒在安装过程中应慬慎小心以防凝固﹒机械测试时﹐可使用诸如滑动离合器类的机械装置以防止样品因超负载力而损坏。
4.3 制造商供应的连接器有时会带润滑油﹐测试前应小心操作以确保润滑油不被抹除﹐并防止被灰尘﹑外界物质等污染﹒若无特别说明，不可超量使用正常生产时所用的润滑油量。
4.4 除非特别说明﹐连接器机械安装要*模拟实际使用中的连接器插拔﹒
5.0 测试方法
5.1 除非特别说明﹐样品被固定在测试夹具上之前﹐允许在测试机器上自行较准﹔安装后﹐按参考文件规定的次数进行循环插拔﹒
5.2 除非参考文件特别说明﹕每小时循环速率应是﹕
　　自动化装置 500±50
　　手工插拔 　zui多300
　　自动循环连接 　250—300
　　除非特别说明﹐测试期间不得对样品使用电子加载。
5.3 检验或测试应在参考文件说明的时间内完成。
　　注意﹕中断检测期间的样品会影响随后的测试结果。
5.4 初始和zui终测量

5.4.1 插拔力﹑接触电阻﹑外壳电阻﹑绝缘电阻﹑抗压﹑接触保持力及密封测试等﹐可在测试前﹑测试中和测试后进行﹐它们可显示电子连接器耐插拔的结果。
5.4.2 决定循环耐插拔结果的连接器检测包括以下几点﹕
（a） 连接装置的磨损﹔
（b） 铆钉的松动或磨损（应用处）﹔
（c） 端子和外壳上电镀的不均匀磨损﹑擦伤﹑脱落﹔
（d） 金属屑片剥落（插入面处）﹔
（e） 移位﹑弯曲或折断接触﹔
（f） 不能正确的插拔﹔
（g） 弹性插入穿刺﹐硬件绝缘破损﹔
（h） 机械操作特性包括关键部件的有效性和电极化系统。
6.0 细节说明﹕
下列细节将在规格说明中详细说明﹕
（a） 循环次数﹔
（b） 除非特别说明﹐应润滑﹔
（c） 循环进行前﹑进行中和完成后进行观测、测量﹔
（d） 循环速率﹔
（e） 人工或自动循环﹔
（f） 如有需要﹐要进行定期检测﹔
（g） 被检测样品的数目﹔
（h） 连接装置是否被移去﹔
（i） 失败标准。
7.0 参考文件
数据窗体应包括﹕
（a） 测试标题﹔
（b） 样品描述﹔
（c） 所用的测试器材﹔
（d） 测试过程包括测试方法﹑循环速率﹑循环次数﹔
（e） 评估﹑观测及外观检测﹔
（f） 操作者姓名和测试日期。
8.0 说明
建立如下一或多款可行性标准﹕
（a） 总插拔力；
（b） 单个接触的拔出力和插入力；
（c） 接触面可允许的电阻zui大变化量；
注：不使用标准循环样品﹔
　 （d） 导致电子组件损坏磨损的程度，随后进行环境暴露测试。