IEC 68-2-1  Tests A：冷 （Cold）
 IEC 68-2-1A Amendment

 1.簡介
　　本試驗法同時適用於會生熱（Heat-dissipating）及不會生熱 （Non heat-dissipating）之試件，並依試驗方法之不同可區分為, 溫度驟變（Sudden change of temperature）及溫度漸變（Gradual change of temperature）兩種。本試驗法主要目的在於決定組件 、裝備或其他試件在低溫環境下操作與儲存之能力，但並不適用於評估試件在溫度改變過程中，可能產生之影響，若欲評估此種情況，請參考"IEC 68-2-14 Test N：溫度變化"。本試驗法中之溫度驟變試驗在採用之前，必須先確定此溫度變化不會對試件產生影響。
 
2.一般描述
　　將試件於室溫條件下置入櫃內，對於溫度驟變試驗，須先將櫃溫降至相關規範所規定之溫度值，再將試件置入；對於溫度漸變試驗則先將試件置入溫櫃，再將櫃溫由室溫條件降至相關規範所規定之溫度值。試件俟溫度達穩定後，再依規定之駐留時間加以保溫。
    對於不會生熱之試件一般以非操作之狀況執行試驗，此時強制空氣對流之方式可適用於此類試驗。對於會生熱之試件則不宜使用強制空氣對流之方式，除非櫃內溫度無法達到所要求之溫度條件。
 
3.嚴厲度（IEC 68-2-1 Tests A：冷）                      
      
溫度（℃）       -65, -55, -40, -25, -10, -5, +5
駐留時間（小時）  2, 16, 72, 96