X荧光光谱仪
时间：2017-02-07 阅读：438
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江苏天瑞仪器股份有限公司 -
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技术指标： 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 100KG 功 耗: 200瓦 配 置： 多样自动进样系统 计算机、喷墨打印机 真空泵（可选） 压片机（可选） 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管