提供TP触摸屏可靠性测试标准
时间：2014-11-10 阅读：1156
TP触摸屏可靠性测试标准
1 目的
规范对TP厂生产的TP产品，执行必要的可靠性试验，监控工艺和品质的稳定性，及时发现品质缺陷重点改善，以满足客户和设计对产品品质的要求。
2 适用范围
3 参考文件
3.1 电工委员会IEC60068-2环境试验及中华人民共和国国家标准
GB/T2423《电工电子产品环境试验》系列标准；
3.2 公司产品设计规范及客户对产品的规格要求等相关文件；
3.3 客户有特殊试验或测试要求时，先选用客户测试标准，但如客户标准
严酷
4 测试设备
试验设备：高温试验箱、低温试验箱、冷热冲击箱、恒温恒湿箱、跌落试验机、振动试验机、表面静压试验机、打点机、划线机、铅笔硬度计等。
6 抽检方法及计划
6.1 抽检对象:TP生产车间生产计划内，以工艺生产或出货的TP产品。
6.2 抽检计划:
6.1.1 样品阶段：
6.1.1.1 每款型号必须进行7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2
6.1.1.2 每款每次抽样数量：44PCS（不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；
6.1.2 试产阶段：
6.1.2.1 每款型号必须进行7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2
6.1.2.2 每款抽样数量：44PCS（不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；
6.1.3 量产阶段：
6.1.3.1 每款型号量产批次的产品必须进行7.1必行试验项目的测试。测试后，高温保存（120H）、低温保存（120H）、高温高湿保存（120H）的产品若为良品，可继续7.2选行项目中的高温保存（240H）、低温保存（240H）、高温高湿保存（240H）试验；若产品所用材料与其它已测试过的产品相同（不论型号），就不必安排每个产品型号都做7.1必行试验项目中的打点试验、表面硬度试验，只需要每周安排一次即可（需要出货的产品必须进行7.1必行试验项目中的包装震动试验）；
6.1.3.2 持续例行抽检本型号的其它批次的产品只需进行7.1必行试验项目中的高温保存（120H）、低温保存（120H）、高温高湿保存（120H）、冷热冲击试验。
6.1.3.3 每款型号量产批号的抽检数量：29PCS（包括相同材料的产品每周必须抽检的数量）；
6.1.3.4 持续例行抽检本型号的其它批次的数量：20PCS ;
6.1.4 重要客户型号的产品：
6.1.4.1 重要客户的型号产品必须进行7.1必行试验项目以及7.2选行试验项目；
6.1.4.2 每款抽样数量：根据打样情况抽取。
7 测试要求
7.1 必行试验项目
若客户无特殊制定的测试要求，TP厂生产的产品（包括新样品，试产品和量产品）都必须要进行并且全部通过以下试验项目，以下试验项目是TP厂生产产品的可靠性zui终评价标准。
| 序号 | 测试项目 | 测试条件 | 抽样数量 | 判定标准 | 备注 | |||
| A-1 | 高温保存 | 80+/-3℃ 120H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||
| A-2 | 低温保存 | -40+/-3℃ 120H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||
| A-3 | 高温高湿保存 | 60+/-3℃ 90+/-3%RH 120H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||
| A-4 | 冷热冲击保存 | -40℃ 30min→80℃ 30min 10cycle | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品（可与反应时间共用） | |||
| A-5 | 打点试验 | R0.8mm 60°的橡皮头；荷重：150g 频率：3次/1秒 打点次数：100万次 打点区域：TP中心 | 2pcs | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等） | |||
| A-6 | 划线试验 | R0.8mm的POM材质笔头；荷重：150g 速度：60mm/秒 划线次数：10万次 划线区域：AA区以内，距离AA区边缘3mm | 2pcs | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等）每2万次换一次笔头 | |||
| A-7 | 表面硬度 | 铅笔法 荷重 500g | 5pcs | ≥3H | 外观、线性不良品 | |||
| A-8 | 反应时间 | DC 5V | 5pcs | ≤10ms | 外观不良线性良品（可与冷热冲击保存共用） | |||
| A-9 | 包装震动 | 10-55HZ 0.75mm 1H | 1箱 | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 本试验项目只针对量产品 | |||
7.2 选行试验项目
对于TP厂生产的产品，可选择进行以下试验项目；除个别客户特殊要求以外，以下试验项目不作为对TP厂生产的TP成品可靠性的zui终评价，仅作为TP厂内部试验对产品的评估参考。
| 序号 | 测试项目 | 测试条件 | 抽样数量 | 判定标准 | 备注 | |||||||
| B-1 | 高温保存 | 80+/-3℃ 240H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||||||
| B-2 | 低温保存 | -40+/-3℃ 240H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||||||
| B-3 | 高温高湿保存 | 60+/-3℃ 90+/-3%RH 240H | 5pcs | 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | |||||||
| B-4 | 钢球冲击试验 | dia 13mm钢球 从50cm处冲击膜面2次 | 5pcs | 试验后产品无破损，变形及开裂等外观不良现象 | 外观、线性不良品 | |||||||
| B-5 | 表面静压测试 | 下压速度：10mm/min ； 4边缘支撑 16mm 直径圆压头（r=20mm）；50N 压力 1min 在TP中心 | 5pcs | 试验后产品无破损，变形及开裂等外观不良现象 | 外观、线性不良品 | |||||||
| B-6 | 包装跌落 | 76cm 4角,3边,6面各一次 坠落地面：大理石 | 1箱 | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 本试验项目只针对量产品 | |||||||
| B-7 | ESD | 表面 | ±15KV C:150pF R:150ohms 5点，每点10次 | 5pcs | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | ||||||
| | | 端子 | ±1KV C:100pF R:1500ohms 4端 每个端子3次 | 5pcs | 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG | 外观不良线性良品 | ||||||
7.3 可靠性试验样品的选样标准
凡将用于可靠性试验且需要评价其电性能的产品，线性必须≤1.2%，回路电阻必须在规定的上下限之内并且低于规定上限的90%，例：某产品X，Y的回路电阻规定上限分别为700 ohms，300 ohms，则所选样品的X，Y回路电阻值必须低于630 ohms和270 ohms。
7.4 其他
若客户有特殊要求时，则按客户要求执行。