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新一代的粒度分析仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合,提供的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III通过X射线吸收测量样品质量,利用标准的沉降法测量粒度,无需建模。该产品的技术已成为造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。
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在过去的三十多年中,麦克仪器公司的SediGraph是*许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室,SediGraph凭借其的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法,颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律,通过测量粒子在液体中的沉降速率,得出粒子粒径大小,粒径分析范围为0.1~300μm。
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SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易,日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品,在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性*的结果。
• 高精度X光管终身保修(7年)
• 简化泵系统,确保快速分析和易于维护
• 降低噪声,提供更加安静的工作环境
• 维护提醒装置,根据总测试量,提示用户进行定期维护
• 电脑控制混合室温度,提高测试可重复性
• Windows操作软件,以太网连接,可进行点击式选择菜单,联网工作,打印机选择,剪切和粘贴等操作
• 多功能和交互式报告系统,能够提供多种类型的报告,例如颗粒沉降速度和粒度(以Phi为单位)
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