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CTS-50型冲击试样缺口投影仪

时间:2014-11-28      阅读:229

一、设备型号与名称CTS-50冲击试样缺口投影仪

二、概述

       随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格,所以在整个试验过程中,试样的加工是否合格会直接影响zui终的试验结果。如果试样加工质量不合格,那么其试验结果是不可信的,特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格,其质量检验是一个重要的控制手段,目前,用光学投影放大检验是*切实可行的方法。

    CTS-50型冲击试样缺口投影仪是根据广大用户的实际需要和GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。其优点是操作简便,对比直观是冲击试样加工过程的*检测设备。

三、技术指标:

1、投影屏直径: 180mm

2、工作台转动范围:0-360°

3、工作台尺寸:方工作台尺寸:110×125mm,

方工作台直径:90mm,工作台玻璃直径:70mm

4、工作台行程:纵向:±10mm,横向:±10mm,升降:±12mm

5、放大倍数:  50X

6、光源:12V   100W(卤钨灯)

7、电源:220V  50Hz   150W

8、外型尺寸:  515×224×603mm

9、重量:18Kg

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