事实上，LED的实际寿命与工作温度往往成反比，如LED使用寿命在工作温度为74℃为10000小时、63℃为25000小

时，小于50℃时，则可为50000小时。根本原因是LED的光电转换效率极差，大约只有15%至20%左右电能转为光输出，其余均转换成为热能，因此，当大量使用高功率的LED于一块模组，应用于高亮度的操作时，这些极差的转换效率将造成散热处理的大问题。

热像仪不仅在研发过程中能够发挥作用，而且也可以应用在产品的品质管理等方面。

1 研发，主要是对LED模块驱动电路（包括电源）、光源半导体发热分布分析、及光衰测试等。

a）LED模块驱动电路

在LED产品研发中，需要工程师进行一部分驱动电路设计，例如整流器电路模块。利用热像仪，工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处，便于完善电路设计。

b）LED光源半导体芯片发热

利用热像仪，工程师可以所得到的光源半导体芯片发热红外热图，分析出其芯片在工作时的温度，以及温度的分布情况，在此基础，达到提高LED产品寿命的目的

c）光衰试验

LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱，而现阶段的LED大厂们做出的LED产品光衰程度都不相同，大功率LED同样存在光衰，这和温度有着直接的关系，主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。目前，市场上的白光LED其光衰可能是向民用照明进军的首要问题之一。