电子半导体-显微镜不溶颗粒检测仪 -优势：

测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；

全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；

将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；

专业软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；

数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；

R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；

颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；

显示器及打印机输出分析结果；

直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；

避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；

现实NAS、ISO等标准方法的认可；

提供“OIL17服务星”签约式服务；

电子半导体-显微镜不溶颗粒检测仪 -应用范围：

电子半导体行业：CMP Slurry，石墨、芯片，晶圆加工等微粒检测；

特殊化工行业：墨水&喷墨、纳米材料、化工染料、润滑剂、清洗剂、有机液等微粒检测；

石化行业：航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、工程机械、液压系统等领域；

其他行业：过滤产品，清洁度方面，食品饮料，化妆品等微粒检测。

执行标准：

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足510多个标准要求。

可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。

技术参数：

订制要求：各类液体检测要求；

测试范围: 1μm-500μm

放大倍数：40X～l000X倍

大分辨：0.1μm

显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）

重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）

数字摄像头(CCD)：300万像素

标尺刻度：0.1μm

分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等

自动分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

软件运行环境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式

供货期：30个工作日

精 确 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；

鉴定机构：国家西北计量测试中心（民品）

售后服务：普洛帝中国服务中心/普研检测。