奥林巴斯显微镜的微分干涉对比法又简称DIC观察法，在工业上有着广泛的应用，如LCD行业TFT导电粒子的检查，电容式触摸屏的线路检查，磁头的检查等都是用上DIC观察法。DIC观察是将用明视野法可能观察不到的试样高度微小差异通过改善对比法变为立体或三维图像的显微观察技术。照明光由微分干涉对比棱镜变为两束衍射光。这两束衍射光使试样高度差异造成在光路上的微小差异，而光路差异变为利用微分干涉对比棱镜和检偏振器的明暗对比，再利用敏感色板，加强了高度差异的颜色变化。在应用过程中，有些使用者不知道DIC的使用步骤，因此得不到想要的观察效果。

奥林巴斯显微镜BX51M的DIC观察步骤

1. 把偏光模块，DIC模块推进尽头。

2. 把明暗场杆拨到明场观察的位置。

3. 把检偏镜旋钮上的白点旋到zui外面。

4. 如果物镜是长工作距离物镜，则把DIC模块上的小拉杆拉出来，如果物镜是常规工作距离物镜则把推进去。

5. 对好焦，调DIC模块的旋钮找的效果