能量色散型X射线荧光分析仪

EDX -LE能量色散型X射线荧光分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2016-06-08 14:48:22
610
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深圳市瑞盛科技有限公司

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产品简介

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以*可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。

详细介绍

仪器简介:

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以*可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,zui近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时*该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。

技术参数:

主要规格 
测定原理——X射线荧光分析法 
测定方法以——能量色散型 
测定对象——固体、液体、粉状 
测定范围——13Ai~92U 
样品室尺寸——zui大W370mm*D320mm*H155mm 
X射线发生部 
X射线管——Rh靶 
电压——5—50KV 
电流——1-1000uA 
冷却方式——风冷(附风扇) 
照射面积——3、5、10mmю;自动交换 
1次滤光片——5种+OPEN自动交换 
检测器 
类型——Si-PIN半导体检测器 
制冷方式——电子制冷 
计数方式——数字滤光片计数处理 
样品室 
测定环境——大气 
样品观察——半导体照相机 
数据处理部 
主机——IBM PC/AT互换机 
内存——512MB以上 
HDD——40GB以上 
分辨率——1024*768点以上 
打印机——彩色喷墨打印机 
CD——CD-ROM驱动 
OS——WindowsVista 
软件 
筛选分析——简单操作软件 
定性分析——测定●解析软件 
定量分析——工作曲线 
应用性——自动校正功能(能量校正、半峰宽校正) 
其他——装置状态监视楞能 
分析结果建表功能 
分析结果报告书创建功能 
环境设置 
                         性能保证范围 
温度条件——10℃~30℃(温度变化在2℃以内) 
湿度条件——40%~70%(不结露) 
电源——AV100v~240v±,2A,带地线插座 
外围设备(打印机、PC、显示器等)的电源需要另行配备

主要特点:

深入浅出
●利用【筛选分析】画面,操作简单方便
●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
装备所有必要功能
●标准装备了Rosh/ELV分析所需的必要功能
●拥有大容量样品室,因此可以直接测定大型样品
使Rosh/ELV的筛选更简单
●日常维护量减少(无需液氮)
●配备保护功能,限制条件或数据的变更
●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义

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