现场检测土壤污染

　　X-MET7000系列手持型X射线荧光分析仪，能快速现场检测土壤里重金属污染物。X-MET是环境应急测、固体废弃物检测、土壤污染追踪、土壤修复和日常监控的必要分析工具。*地降低了实验室分析的需求和成本。

　　X-MET7000使用牛津仪器的PentaPIN探测器，分析性能更强。X-MET7500装有高分辨率的硅漂移探测器(SDD)，分析灵活快速，检测下限更低。