四探针测试仪

四探针测试仪

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2015-12-23 12:00:00
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上海丽驰计量仪器有限公司

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产品简介

四探针测试仪

详细介绍

四探针测试仪 9100

LY.4-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
  仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
  本仪器广泛应用于太阳能单晶多晶生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

 

技术指标

 

 LY.4-RTS-2测量范围

 电阻率:0.011999.9Ωcm 
 
方块电阻:0.119999
Ω/MΩ

 LY.4-RTS-2A测量范围

 电阻率:0.001199.99Ωcm 
 
方块电阻:0.011999.9
Ω/MΩ

LY.4-RTS-2恒流源

 电流量程分为100μA1mA两档,各档电流连续可调

LY.4-RTS-2A恒流源

 电流量程分为1mA10mA两档,各档电流连续可调

数字电压表

 量程及表示形式:000.00199.99mV;    
 分辨力:10μV
 输入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1%
 显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示;

四探针探头基本指标

 间距:1±0.01mm
 针间绝缘电阻:≥1000MΩ;
 机械游移率:≤0.3%

 探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm
 探针压力:516牛顿总力

四探针探头应用参数

 (见探头附带的合格证

模拟电阻测量相对误差
JJG508-87进行

 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1

整机测量zui大相对误差

用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试≤±5%

整机测量标准不确定度

 5%

外型尺寸

 125mm()*145mm()*245mm(

标准使用环境

 温度:23±2℃;
 相对湿度:≤65%
 无高频干扰;
 无强光直射;

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