品牌
生产厂家厂商性质
所在地
AFM-IN工业型原子力显微镜产品特点:
应用范围
基本工作模式 | 接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力 |
---|---|
选配工作模式 | Profile线快速测量模式 |
Zui大样品尺寸 | Φ≥300mm,H≥50mm |
闭环扫描范围 | XY向100um,Z向10um |
闭环扫描分辨率 | XY向0.2nm,Z向0.05nm |
样品移动范围 | 300mm×300mm |
辅助光学定位 | 10X物镜,光学分辨率1um(可选配20X,光学分辨率0.8um) |
气动式减震台 | 减震频率0.5Hz |
噪音水平 | <0.1nm |
扫描速率及角度 | 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360° |
扫描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 |
反馈方式 | DSP数字反馈 |
反馈采样速率 | 64.0KHz |
通信接口 | USB2.0/3.0 |
运行环境 | WindowsXP/7/8/10操作系统 |