JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜

的性能，让您尽享轻松自如！

支持广泛研究领域的*分析工具

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜超高分辨率

新研发的super hybrid 物镜，能获取0.8nm （15kV） 和1.2nm （1kV） 的超高分辨率，采用了Gentle Beam 的高性能电子光学系统，能够显示试样表面的微细结构，可以在数百伏的低加速电压下观察材料的成分分布。

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜快速、高精度的分析

利用日本电子技术 “光阑角度*调节透镜” （Aperture Angle Optimizing Lens），即使增大电流，也能够保持很小的电子探针直径。使用大束流，在不牺牲元素分析的高精度和高质量的同时，保证了分析的高速度。还可以使用EDS、WDS、EBSD 等多种分析附件。能够获取无畸变的EBSD 花样，因而可以进行高精度的晶体取向分析。

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜高稳定的电子探针能获取zui可靠性的数据

使用浸没式热场发射电子枪，能获取长时间稳定的电子探针，无论何时都能实现高性能，无需等待探针电流的稳定。
多个用户获得的数据或者不同时间获得的数据，都能很容易地进行比较。

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜不受试样限制

super hybrid 物镜采用不漏磁设计，在分析工作距离上没有磁场。
对磁性材料能在高倍率下进行观察与分析。
对非导电性试样的观察也变得更加便捷。

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜走近纳米世界

新开发的super hybrid 物镜，将研究者与纳米世界的距离拉得更近。利用这种物镜，即使在极低入射电子能量下，也能获得很高的分辨率，这是观察试样表面纳米结构所*的。
即使是磁性材料，利用super hybrid 物镜，也能进行高倍率的观察与分析。

JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜检测器

通过四种※检测器，能够有选择地检测试样中电子的能量。
（※包括选配件检测器）