一、用途与特点

正置式的金相显微镜，除了用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于集成电路和微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象进行研究分析等工作。

立柱式的结构设计，可随意设定镜筒的水平及垂直位置，适合各种不同类型的试样及环境。

仪器可以选用摄像或数码摄影系统，由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒体系统及电子信箱。

系统还可以选配显微图像分析计算机操作系统软件，如下：

1.       金相图像分析系统；2.显微图像分析系统；3.显微图像测量系统

二、规格

1．物、目镜及总放大倍率（表）

目镜 物镜	平常目镜PL 10×（视场φ18mm/焦距25mm）						图像系统53X-V
	放大倍数	数值孔径	系统	物方视场 （mm）	工作距离 （mm）	放大倍率	物方视场 (mm)	放大倍率
平场消色差物镜PL	10×	0.25	干	φ1.80	8.90	100×	0.6×0.4	300×
	25×	0.40		φ0.72	0.76	250×	0.24×0.18	750×
	40×	0.65		φ0.45	0.69	400×	0.15×0.12	1200×
	60×	0.85		φ0.25	0.50	600×	0.10×0.07	1800×

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2．结构：                正置式  三目镜筒

倾角45° 瞳距和屈光度可调 4物镜转换器

3．试样高度：    90mm

4．调焦机构：           同轴粗微动  调节范围15.5mm  格值0.002 mm

选配系统

图像金相显微镜53X-V配置                   数码摄影金相显微镜53X-D配置

1．金相显微镜：    53X                     1．金相显微镜：53X  

2．图像适配镜：    MCL-Z                  2．数码适配镜：MCL-D

3．图像传感摄像机：TOTA-500               3．数码相机：  品牌数码相机

4．图像捕捉卡：    DH-CG400               4．图像捕捉卡：DH-CG400

选配件

1．  长工作距平场物镜：PLL 20×；PLL 25×；PLL 40×

2．  测微目镜和测微尺：测微目镜10×；测微尺0.01/1mm

3．  移动平台：        X-Y向移动范围70×50mm

4．  测量工作台：      各种规格

5．  显微图像分析系统：金相图像分析；或图像形态分析计算机操作系统