移动计量室，三维数据采集直观

    模块化 T-SCAN 系统助力实现快速检测：系统即刻捕捉零 件三维数据，无需任何准备工作。手持式 T-SCAN 激光扫 描仪与光学跟踪系统 T-TRACK ，T-POINT 接触式探针 结合，形成一套直观且高精度的三维计量解决方案。搭配 GOM Inspect Suite 软件套装，突破了其在三坐标测量 技术领域的新高度。

模块一体化概念

    模块一体化概念和完整的激光扫描解决方案为各种应用和表面检测提供的灵活性。

及时偏差检测

    省时省钱：该移动式测量解决方案可作用于车间现场，带来直观的零件分析，测量以及数模建立。

用户引导性的软件工作流程

    T-SCAN 系统现与 GOM Inspect Suite 软件套装结合。用户可在视察器上实时查看扫描进度，并在扫描，探针探测和检测过程中获得软件操作提示 。

移动式测量系统两种适配选择

    手持式激光扫描仪可同时与接触式探针，以及另外两款光学跟踪系统搭配使用。蔡司 T-TRACK 20 作为一套技术成熟的系统，可覆盖20 m³ 的测量体积 ，全新蔡司 T-TRACK 10 则适用于较小的测量体积，满足更高的精度要求。

ZEISS T-SCAN

手持式三维激光扫描仪

ZEISS T-POINT

手持式接触探针，用于单点测量

新品

ZEISS T-TRACK 10

光学跟踪器，覆盖10 m³ 测量体积

ZEISS T-TRACK 20

光学跟踪器，覆盖20 m³ 测量体积

数据轻松捕捉手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN

    T-SCAN 扫描仪可进行快速，直观的三维数据采集 。 手持式设计符合人体工学，扫描轻松不费力。测头轻 巧，结构紧凑，尤其适用于可及性非常差的零件部位 的数据采集。

多尺寸测量ZEISS T-TRACK 20

    蔡司 T-TRACK 20 的测量体积可达20 m³。单次设置即可测量大至 4 m 的零件。上手容易，您可以高效，准确，快速地采集到三维数据。只需将零件放入其跟踪体积范围内，即可进行测量 ，无需准备参考点。

    可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。

新品

高精度测量ZEISS T-TRACK 10

    全新 T-TRACK 10 光学跟踪系统的测量体积可达10 m³， 与T-SCAN 10 结合，只需进行一次设置，就可以测量长达 2.5 m 的零件。配备高品质的蔡司光学元件，尤其适用于对 精度有高要求的工业应用。

    可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。

快速单点测量ZEISS T-POINT

    蔡司 T-POINT 接触式探针是对物体标准几何形状，切边区域，以及光测量手段难以进入的死角区域进行单点测量的理想解决方案。它可以快速，稳定地采集到目标位置的三维数据。该设备可以与传统的测量探针一起使用，更换起来方便快捷。

扩展您的测量体积ZEISS T-SCAN SMTs

    通过使用T-SCAN SMT （球形标靶），您可以进一步扩展测量体积，甚至结合多个蔡司T-SCAN 系统使用。当被测零件尺寸过大，或者表面形状阻碍激光投射时，您可以将这个方便的多位置跟踪器安装到物体上，从而获得精度一致的三维数据。

高过程可靠性GOM Inspect Suite

    GOM Inspect Suite拥有成熟的三维计量体系标准。 蔡司 T-SCAN 目前与 GOM Inspect Suite 多合一软件 解决方案实现同步结合。测量和检测均可以在软件 中执行，全参数化的工作流程确保所有过程步骤的 可追溯性。此外软件提供用户操作指引，可辅助用 户进行扫描和探测，从而简化并加快工作流程。

快速和高精度三维扫描

    一系列出色的产品技术特征，比如适用于扫描各类物体表面的高动态范围，创新摄像技术，高品质蔡司光学元件和高数据速率结合，确保了流畅的扫描过程和精确的测量结果。

动态参考

    即使在移动的物体上也能高精度采集三维数据。动态参考功能可以让您不受零部件运动和震动等恶劣条件影响，高效完成测量任务。

广泛的行业应用

    质量控制 / 检测

    标称与实际数据对比

    零件边界和边缘数据获取(钣金件)

    复杂焊接结构的检测

    车间检测

    模具和模型制造

    模具重建

    扫描数据以生成加工路径

    对过审模具进行实际数据采集

    捕捉复杂零件动态，例如捕捉装夹过中的变形数据

    产品开发和设计

    高动态范围，可扫描各种表面

    扫描设计模型用于CAD下游处理和文件存档

    量具和夹具设置

    快速采集参考几何形状和区域