Qnix4500一体双用涂层测厚仪

Qnix4500一体双用涂层测厚仪

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2024-11-12 03:23:38
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产品简介

一、简介QuaNix4200/4500是利用霍尔原理而设计的探头与主机一体化式金属涂层测厚仪

详细介绍

一、 简介

QuaNix4200/4500是利用霍尔原理而设计的探头与主机一体化式金属涂层测厚仪。QuaNix4200用于测量铁磁性基体(如钢、铁)上的涂层,如油漆、各种防腐层、粉喷涂等。QuaNix4500Fe/NFe两用探头,既可用于测量磁性基体,又可测量非磁性基体如铜、铝、合金等上的涂层。

二、测量
    将仪器探头垂直接触被测物的表面,仪器将自动开机并测得数据。注意:测量时务必要使探头垂直接触被测物表面。

三、调零
    仪器在测量前,为减少测量误差,应在基体上取零位作基准。可以用没有涂层的工件表面也可以用随仪器带基体。用仪器测量基体,如显示0,表明已是零位,不用再调零。如不显示0,则需要调零。将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上,不要抬起,按一下仪器上的红键松开,听到响声液晶显示一组数后,拿开仪器,再次听到响声后,液晶显示0,调零完毕。注意:由于工件表面粗糙度的原因,调零后,再测时不一定是的零位,这是正常现象。

四、Fe/NFe探头转换
    QuaNix4500为两用探头,当测量不同的基体时,需要对磁性模式(Fe)与非磁性模式(NFe)进行转换。在开机状态下,按红键进入菜单选项,继续按红键选择Fe或者Nfe选项短暂停留后,就已选择相应的测量模式,也可以选择FeNfe选项,短暂停留后就进入自动识别基体模式(推荐使用)!

     菜单中Averaging为平均值选项,在Averaging选项短暂停留后出现ONOFF两个选项,在ON选项下短暂停留后进入平均值测量模式,测量时所显示读数为最后三次读数的平均值,在OFF选项下短暂停留后退出平均值测量模式。

五、显示

    Fe:测量铁磁性基体模式

    NFe:测量非磁性基体模式

    Err:操作失误

    INFI:探头模式与被测基体不符

BAT:电量不足,需换电池

    

六、维护和维修

QuaNix4200/4500测厚仪采用的电子技术,能满足各种不同的测量要求。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。只要正确使用和维护,它的寿命会很长。仪器需要保持清洁, 不要摔落, 避免与潮气,具有化学腐蚀性的物质或气 体接触。使用完毕,仪器应被放回具有保护性和便于挪动的盒子中。温度的剧烈变化将影响测量结果,所以不要直接把仪器暴露在强烈的阳光下或能引起温度聚变的能量中。仪器对大多数溶剂具有抵抗性,但不能保证极少数化学物质的腐蚀,这时处理的方法仅仅是用一块潮湿,柔软的布擦洗仪器。只有探针保持清洁,才能获得准确的数据,所以要定期检查探针,清理探针上残留的污物诸如漆等。仪器长期不被使用时, 为避免因漏电而损坏,要取出电池。出现故障时,请不要自行修理,我们的维修部门随时竭诚为您服务。

七、技术参数

双 功 能Δ测量钢、铁等磁性(Fe)基体上的非磁性涂镀层的厚度;
           如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、
           合成材料、磷化层、铬、锌、铝、锡、铅、镉等;
         Δ测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性(NFe)基体上非导电层的厚度,
           如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、
           合成材料、氧化层等。 

磁性基体                 Fe探头(4200/4500

非磁性基体               NFe探头(4500

测量范围                 Fe:0-3000um/NFe:0-3000um

精度                     0-50um:+/-1um

50-1000um:+/-1.5%读数

1000-3000um+/-3%

最小接触面               10×10mm

最小曲率半径             凸面:3mm

                         凹面:25mm

最小机体厚度             Fe:0.2mm/NFe:0.05um

温度补偿范围             -10-60

测量范围                 0-50

显示                     LCD液晶

探头                     红宝石固定式

电源                     2×1.5V干电池

尺寸                     100×60×27mm

重量                     105g

八、注意事项
    测量应为点接触,严禁将探头置于被测物表面滑动。

    每次测量间隔时间应大于几秒钟,且仪器应离开被测物10cm以上,再进行下一次测量。

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