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PMS-2000 紫外-可见-近红外光谱分析系统
面议HAAS-3000 /HAAS-2000高精度快速光谱辐射计(实验室级)
面议GO-R5000 全空间快速分布光度计
面议GO-NR1000近场分布光度计
面议OST-500光辐射安全测定系统
面议激光器光辐射安全测试系统
面议PCE-2000UV紫外光源辐射测试系统
面议HAAS-2000高精度紫外光谱辐照度计(实验室用)
面议PCE-2000UV 紫外LED/模组辐射测试系统
面议GO-5000UV 总辐射通量及分布测试系统
面议ATA-500UV LED自动温控光电分析测量系统-紫外
面议USR-200 紫外光谱辐射照度计/UV能量计
面议
采用多项技术,具备精细结构函数分析功能
● 用于LED封装产品的热阻、结温及分层热阻结构的精密分析;
● 采用TRA专用软件进行结构函数分析,可以获得LED精细的热阻结构(从芯片至各封装结构的热阻值),从而客观评价LED封装产品的散热质量和热管理水平,为LED的散热设计提供验证。
主要参考标准
● EIA/JESD 51-1~14 Integrated Circuits Thermal Measurement Method
● MIL-STD-750D Test Method for semiconductor Device
● SJ 20788-2000 半导体二极管热阻测试方法
● GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电流第二部分:整流二极管
● QB/T 4057-2010 普通照明用发光二极管性能要求