NIKON日本尼康XT V 160 - X射线检测系统

XT V 160：电子检测用纳米技术（NanoTech） X射线系统 
XT V 160也被称为Revolution，是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。

    该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的zui高分辨率和放大倍数，非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。
    XT V 160是一款通用工具，使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。zui为重要的是，它可用于计算机断层扫描CT检测，根据其完整的三维图像，重构该试样。 
    设计用于* BGA和μBGA 检测，多层板检测和PCB焊接点检测，XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便，分辨率高和成本低廉的检测解决方案，是检测实验室*的骨干设备。

XT V 160 检测优点

• 操作使用直观
• 能在很短的时间内获得高质量图像
• 市场的放大倍数，适用于*板检测
• 75°倾斜视角（板平面的方位角为15°）
• 购置成本低
• 安全装置，可作为设计标准
• 占用空间小